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- ADVANCED_POWER_MANAGEMENT=進階電源管理(APM)
- [WindowTitle]
- ABOUT=關於 CrystalDiskInfo(正體中文編譯:謝慶憲)
- GRAPH=圖表
- CUSTOMIZE=自訂
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- [HealthStatus]
- THRESHOLD_OF_CAUTION=警告臨界值
- APPLY=套用
- DEFAULT=預設
- [Smart]
- UNKNOWN=未知
- VENDOR_SPECIFIC=特定廠商
- 01=底層資料讀取錯誤率
- 02=讀寫通量效能
- 03=碟片啟動時間
- 04=馬達啟動關閉次數
- 05=重定位磁區計數
- 06=信道讀取餘量
- 07=尋道錯誤率
- 08=尋道效能
- 09=總通電時間
- 0A=啟動重試次數
- 0B=磁頭校準重試
- 0C=開關電源次數
- 0D=軟體讀取錯誤率評估
- 16=目前氦氣等級
- B8=終端校驗出錯
- BB=報告不可糾正錯誤
- BC=通訊超時
- BD=磁頭寫入高度
- BE=氣流溫度
- BF=加速度錯誤率
- C0=電源關閉磁頭收回計數
- C1=載入/卸載迴圈計數
- C2=硬碟溫度
- C3=硬體錯誤修正編碼復原
- C4=重定位事件計數
- C5=等候重定的磁區計數
- C6=無法校正的磁區計數
- C7=UltraDMA 高速傳輸模式錯誤次數
- C8=寫入錯誤率
- C9=邏輯讀取錯誤率
- CA=資料位址標記錯誤
- CB=用完取消
- CC=邏輯 ECC 糾正
- CD=過溫率
- CE=磁頭飛行高度
- CF=主軸電機浪涌電流計數
- D0=旋轉蜂鳴
- D1=離線定址效能
- D3=寫入時的震動
- D4=寫入時的衝擊
- DC=盤體偏移
- DD=加速計出錯率
- DE=資料載入時間
- DF=載入/卸載重試次數
- E0=負載摩擦
- E1=載入/卸載迴圈計數
- E2=磁頭載入時間
- E3=扭矩放大計數
- E4=斷電縮回周期
- E6=巨磁阻式磁頭振幅
- E7=硬碟溫度
- F0=磁頭飛行時間
- FA=讀取錯誤重試率
- FE=自由跌落保護
- ;Updated 5.4.0
- F1=對 SSD 累計寫入
- F2=對 SSD 累計讀取
- [SmartSsd]
- 01=底層資料讀取錯誤率
- 02=讀寫通量效能
- 03=碟片啟動時間
- 04=馬達啟動關閉次數
- 05=重定位磁區計數
- 06=信道讀取餘量
- 07=尋道錯誤率
- 08=尋道效能
- 09=總通電時間
- 0A=啟動重試次數
- 0B=磁頭校準重試
- 0C=關閉電源次數
- 0D=軟體讀取錯誤率評估
- C0=不安全關機次數
- C2=硬碟溫度
- C4=重定位事件計數
- C5=等候重定的磁區計數
- C6=無法校正的磁區計數
- ; CrystalDiskInfo assign
- FF=剩餘壽命
- ;Updated 5.4.0
- F1=對 SSD 累計寫入
- F2=對 SSD 累計讀取
- [SmartMtron]
- BB=抹除次數總計
- [SmartIndilinx]
- 01=底層資料讀取錯誤率
- 09=總通電時間
- 0C=關閉電源次數
- B8=初始損壞磁區數
- C2=硬碟溫度
- C3=程式失敗磁區數
- C4=抹除失敗磁區數
- C5=讀取失敗磁區數
- C6=讀取磁區總數
- C7=寫入磁區總數
- C8=讀取命令總數
- C9=寫入命令總數
- CA=來自 Flash 的錯誤位元總數
- CB=包含可校正位元錯誤的讀取磁區總數
- CC=損壞磁區完整旗標
- CD=最大 PE 次數規格
- CE=最小抹除次數
- CF=最大抹除次數
- D0=平均抹除次數
- D1=磁碟剩餘壽命
- [SmartJMicron60x]
- 09=總通電時間
- 0C=關閉電源次數
- C2=硬碟溫度
- E5=停止系統 ID, Flash ID
- E8=韌體版本資訊
- E9=ECC 失敗記錄
- EA=平均抹除次數,最大抹除次數
- EB=良好磁區數,系統磁區數
- [SmartIntel]
- 03=碟片啟動時間
- 04=馬達啟動關閉次數
- 05=重定位磁區計數
- 09=總通電時間
- 0C=關閉電源次數
- AA=可用的保留空間
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AE=意外電源中斷
- AF=電源中斷保護故障
- B7=SATA 降級執行計數
- B8=終端校驗出錯偵測次數
- BB=無法校正的錯誤次數
- BE=硬碟溫度
- C0=不安全關機次數
- C2=硬碟溫度
- C5=等候重定的磁區計數
- C7=高速傳輸模式錯誤次數
- E1=對 SSD 累計寫入
- E2=一定時間內的磨損比例
- E3=讀寫比例
- E4=單次測試時間
- E8=可用的保留空間
- E9=介質耗損指標
- EA=熱節流狀態
- F1=LBA(邏輯區塊定址)寫入總數
- F2=LBA(邏輯區塊定址)讀取總數
- F3=NAND 累計寫入
- F9=NAND 累計寫入
- [SmartSamsung] ;Updated 6.6
- 05=重定位磁區計數
- 09=總通電時間
- 0C=通電次數
- AF=程式失敗次數(晶片)
- B0=抹除失敗次數(晶片)
- B1=顆粒平均擦寫次數
- B2=已使用的保留空間數(晶片)
- B3=已使用的保留空間數(總計)
- B4=未使用的保留空間數(總計)
- B5=程式失敗次數(總計)
- B6=抹除失敗次數(總計)
- B7=執行階段損壞磁區(總計)
- BB=無法校正的錯誤次數
- BE=氣流溫度
- C2=硬碟溫度
- C3=ECC 錯誤率
- C6=離線無法校正錯誤次數
- C7=高速傳輸模式錯誤次數
- C9=超級電容狀態
- CA=SSD 模式狀態
- EB=POR 復原次數
- F1=LBA(邏輯區塊定址)寫入總數
- F2=LBA(邏輯區塊定址)讀取總數
- ;Added 6.6
- AA=未使用的保留空間數(晶片)
- AB=程式失敗次數(晶片)
- AC=抹除失敗次數(晶片)
- AD=顆粒平均擦寫次數
- AE=未預期的電源中斷次數
- B8=出錯偵測
- E9=正常媒體耗損
- [SmartSandForce] ;Updated 3.7.0
- 01=原始讀取錯誤率
- 05=已淘汰區塊數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- 0D=軟體讀取錯誤率
- 64=GB 已抹除
- AA=保留區塊數量
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AE=未預期的電源中斷次數
- B1=耗損範圍差異
- B5=程式失敗次數
- B6=抹除失敗次數
- B8=報告 I/O 錯誤檢測代碼錯誤
- BB=報告不可糾正錯誤
- C2=硬碟溫度
- C3=ECC 運作中不可糾正錯誤次數
- C4=重定位事件計數
- C6=無法校正的磁區總數
- C7=SATA R-Errors 錯誤次數
- C9=無法校正的軟體讀取錯誤率
- CC=邏輯 ECC 校正率
- E6=壽命曲線狀態
- E7=SSD 壽命剩下
- E8=可用的保留空間
- EB=SuperCap 健康情況
- F1=寫入壽命
- F2=讀取壽命
- [SmartJMicron61x] ;Added 3.9.0
- 01=底層資料讀取錯誤率
- 02=讀寫通量效能
- 03=碟片啟動時間
- 05=重定位磁區計數
- 07=尋道錯誤率
- 08=尋道效能
- 09=總通電時間
- 0A=啟動重試次數
- 0C=開關電源次數
- A8=SATA PHY 錯誤次數
- AF=損壞叢集表數(錯誤自動檢查與更正(ECC)失敗次數)
- C0=未預期的電源中斷次數
- C2=硬碟溫度
- C5=等候重定的磁區計數
- AA=損壞區塊數
- AD=抹除次數
- [SmartMicron] ;Added 4.0.0/ Updated 6.6.0
- ; RAIN = Redundant Array of Independent NAND
- 01=原始讀取錯誤率
- 05=重定位磁區計數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- 0D=軟體錯誤率
- 0E=裝置容量(NAND)
- 0F=使用者容量
- 10=可用的備用區塊
- 11=剩餘的備用區塊
- 64=總計抹除計數
- AA=保留區塊數
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AD=區塊平均抹除次數
- AE=未預期的電源中斷次數
- B4=未使用的保留 NAND 區塊
- B5=非實體對齊頁面存取次數
- B7=SATA 介面降級
- B8=錯誤校正次數
- BB=報告不可糾正錯誤
- BC=通訊超時次數
- BD=出廠時的壞區塊數
- C2=硬碟溫度
- C3=累計校正過的 ECC
- C4=重定位事件計數
- C5=等候重定的磁區計數
- C6=Smart 離線掃瞄無法校正的錯誤次數
- C7=UltraDMA 高速傳輸模式錯誤率
- CA=已使用的壽命百分比
- CE=寫入錯誤率
- D2=成功 RAIN 復原次數
- EA=已讀取的位元組總數
- F2=防寫保護進度
- F3=ECC 位元校正
- F4=ECC 累計臨界值事件
- F5=累計程式 NAND 頁
- F6=總計主機磁區寫入
- F7=主機程式頁面計數
- F8=FTL 程式頁面計數
- ; Updated 8.11.0
- F9=總重新整理 ISP 計數
- FA=總 Do RefCal 計數
- FB=總 NAND 讀取平面計數 (低 4 位元組)
- FC=總 NAND 讀取平面計數 (高 4 位元組)
- FD=總區塊重新對應成功計數
- FE=總背景掃描超過限制計數
- DF=總背景掃描
- [SmartMicronMU02] ;Updated 8.17.0
- ; RAIN = Redundant Array of Independent NAND
- 01=原始讀取錯誤率
- 05=重定位磁區計數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- 0D=軟體錯誤率
- 0E=裝置容量(NAND)
- 0F=使用者容量
- 10=可用的備用區塊
- 11=剩餘的備用區塊
- 64=總計抹除計數
- AA=保留區塊數
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AD=區塊平均抹除次數
- AE=未預期的電源中斷次數
- B4=未使用的保留 NAND 區塊
- B7=SATA 介面降級
- B8=錯誤校正次數
- BB=報告不可糾正錯誤
- BC=通訊超時次數
- BD=出廠時的壞區塊數
- C2=硬碟溫度
- C3=累計校正過的 ECC
- C4=重定位事件計數
- C5=等候重定的磁區計數
- C6=Smart 離線掃瞄無法校正的錯誤次數
- C7=UltraDMA 高速傳輸模式錯誤率
- CA=已使用的壽命百分比
- CE=寫入錯誤率
- D2=成功 RAIN 復原次數
- EA=已讀取的位元組總數
- F3=ECC 位元校正
- F4=ECC 累計臨界值事件
- F5=累計程式 NAND 頁
- F6=總計主機磁區寫入
- F7=主機程式頁面計數
- F8=背景程式頁面計數
- ; Updated 6.6.0
- A0=無法糾正的磁區計數
- A1=有效的備用區塊
- A3=初始無效區塊
- 94=總計 SLC 抹除次數
- 95=最大 SLC 抹除次數
- 96=最小 SLC 抹除次數
- 97=平均 SLC 抹除次數
- A4=總計 TLC 抹除次數
- A5=最大 TLC 抹除次數
- A6=最小 TLC 抹除次數
- A7=平均 TLC 抹除次數
- A9=剩餘壽命百分比
- B5=程式失敗次數
- B6=抹除失敗次數
- C0=電源關閉磁頭收回計數
- E8=可用的保留空間
- F1=總計 LBA 寫入
- F2=總計 LBA 讀取
- F5=總計 TLC 寫入次數
- F6=總計 SLC 寫入次數
- F7=RAID 復原次數
- ; Updated 8.10.0
- F9=總重新整理 ISP 計數
- FA=總 Do RefCal 計數
- FB=總 NAND 讀取平面計數 (低 4 位元組)
- FC=總 NAND 讀取平面計數 (高 4 位元組)
- FD=總區塊重新對應成功計數
- FE=總背景掃描超過限制計數
- DF=總背景掃描
- [SmartOcz] ;Added 4.5.0
- 01=原始讀取錯誤率
- 03=碟片啟動時間
- 04=馬達啟動關閉次數
- 05=重定位磁區計數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- C2=外殼溫度
- E8=寫入磁區總數
- E9=剩餘壽命
- ; Added 6.6.0
- 64=總計區塊已抹除
- A7=SSD 保護模式
- A8=SATA PHY 錯誤計數
- A9=損壞區塊數
- AD=抹除次數
- B8=工廠損壞區塊數
- C0=未預期的電源中斷次數
- CA=修正位元總數
- CD=最大額定 PE 計數
- CE=最小抹除次數
- CF=最大抹除次數
- D3=SATA 無法校正的錯誤次數
- D4=重試期間的 NAND 頁讀取
- D5=簡單讀取重試次數
- D6=自我調整讀取重試次數
- DD=內部資料路徑無法校正的錯誤
- DE=RAID 復原次數
- E6=電源中斷保護
- FB=NAND 讀取次數
- ;Updated 6.7.0
- F1=對 SSD 累計寫入
- F2=對 SSD 累計讀取
- [SmartPlextor] ;Added (5.1.0)/Updated (5.4.0)
- 01=底層資料讀取錯誤率
- 05=重定位磁區計數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- AA=增長的損壞區塊
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AD=平均程式/抹除次數
- AE=未預期的電源中斷次數
- AF=程式失敗次數(最糟狀況)
- B0=抹除失敗次數(最糟狀況)
- B1=顆粒平均擦寫次數
- B2=已使用的保留區塊數(最遭狀況)
- B3=已使用的保留區塊數
- B4=未使用的保留區塊數(總計)
- B5=程式失敗次數
- B6=抹除失敗次數
- B7=SATA 介面降級
- B8=終端校驗資料出錯已校正
- BB=無法校正的錯誤次數
- BC=通訊超時
- C0=不安全關機次數
- C3=ECC 錯誤率
- C4=重定位事件計數
- C6=無法校正的磁區總數
- C7=Ultra 高速傳輸模式錯誤次數
- E8=可用的保留空間
- E9=NAND GB 已寫入
- F1=對 SSD 累計寫入
- F2=對 SSD 累計讀取
- [SmartSanDisk] ;Added 5.2.0
- 05=已淘汰區塊數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- AA=保留區塊數量
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AD=平均寫入/抹除次數
- AE=未預期的電源中斷次數
- BB=報告不可糾正錯誤
- C2=外殼溫度
- E6=寫入/抹除次數總計百分比
- E8=剩餘壽命
- EA=寫入/抹除次數總計百分比 (BC 區塊)
- F1=對 SSD 累計寫入
- F2=對 SSD 累計讀取
- [SmartOczVector] ;Added 5.3.0
- 05=累計執行階段損壞磁區
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- AB=可用超額提供的區塊數
- AE=開關電源次數(尚未計畫)
- BB=無法校正的 NAND 讀取累計
- C2=外殼溫度
- C3=規劃失敗累計
- C4=抹除失敗累計
- C5=讀取失敗累計(無法校正)
- C6=對 SSD 讀取
- C7=對 SSD 寫入
- D0=平均抹除次數
- D2=SATA 高速傳輸模式錯誤次數
- E9=剩餘壽命
- F9=NAND 規劃次數累計
- ;Updated 5.5.0
- F1=對 SSD 累計寫入
- F2=對 SSD 累計讀取
- ;Updated 6.6.0
- 64=總計區塊已抹除
- B8=工廠損壞區塊數總計
- CA=讀取位元修正總數
- CD=最大額定 PE 計數
- CE=最小抹除次數
- CF=最大抹除次數
- D4=需要讀取重試的 NAND 頁讀取總次數
- D5=簡單讀取重試次數總次數
- D6=自我調整讀取重試次數總次數
- DD=內部資料路徑保護無法校正的錯誤
- DE=RAID 復原次數
- E0=在保修期內
- E1=DAS 極性
- E2=部份 Pfail
- E6=寫入限制啟用標誌
- F9=NAND 規劃次數累計(頁)
- FB=NAND 讀取次數總計
- [SmartCorsair] ;Added 6.2.0
- 01=原始讀取錯誤率
- 05=已淘汰區塊數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- AA=保留區塊數量
- AC=抹除失敗次數
- AE=未預期的電源中斷次數
- B5=程式失敗次數
- BB=無法校正的錯誤報告
- C2=外殼溫度
- C4=重定位事件計數
- E7=SSD 壽命剩下
- F1=壽命 GB 寫入
- F2=壽命 GB 讀取
- [SmartToshiba] ;Added 6.2.0
- 01=底層資料讀取錯誤率
- 02=讀寫通量效能
- 03=碟片啟動時間
- 04=馬達啟動關閉次數
- 05=重定位磁區計數
- 07=尋道錯誤率
- 08=尋道效能
- 09=總通電時間
- 0A=啟動重試次數
- 0B=磁頭校準重試
- 0C=關閉電源次數
- A7=SSD 保護模式
- A8=SATA PHY 錯誤次數
- A9=損壞區塊數總計
- AD=抹除次數
- C0=未預期的電源中斷次數
- C2=硬碟溫度
- C4=重定位事件計數
- C5=等候重定的磁區計數
- C6=無法校正的磁區計數
- F1=對 SSD 累計寫入
- F2=對 SSD 累計讀取
- [SmartSanDiskGb] ;Added 6.2.0
- 01=底層資料讀取錯誤率
- 05=重定位區塊計數
- 09=總通電時間
- 0C=關閉電源次數
- A5=區塊抹除次數 (SLC)
- A6=最小 P/E 週期
- A7=最大損壞區塊/晶粒
- A8=最大 P/E 週期
- A9=損壞區塊總計
- AA=成長的損壞區塊
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AD=平均抹除週期
- AE=未預期的電源中斷次數
- B8=終端校驗出錯偵測/校正次數
- BB=報告不可糾正錯誤
- BC=通訊超時次數
- C2=硬碟溫度
- C7=高速傳輸模式錯誤次數
- D4=SATA PHY 錯誤
- E6=總計 P/E 計數百分比
- E7=SSD 壽命剩下
- E8=備用區塊剩餘
- E9=總計 GB 寫入 NAND
- EA=總計 GB 寫入 NAND (SLC)
- EE=介質耗損指標 (剩餘週期)
- F1=總計 GB 寫入
- F2=總計 GB 讀取
- F4=溫度節流狀態
- F9=NAND GB 已寫入
- [SmartKingston] ;Added 6.6.0
- ;https://media.kingston.com/support/downloads/MKP_521_Phison_SMART_attribute.pdf
- 01=底層資料讀取錯誤率
- 02=讀寫通量效能
- 03=碟片啟動時間
- 05=重定位磁區計數
- 07=尋道錯誤率
- 08=尋道效能
- 09=總通電時間
- 0A=啟動重試次數
- 0C=關閉電源次數
- A8=SATA PHY 錯誤次數
- AA=損壞區塊數
- AD=抹除次數
- AF=損壞叢集表數
- BB=不可糾正錯誤
- C0=不安全關機次數
- C2=硬碟溫度
- C4=後來損壞區塊計數
- C5=等候重定的磁區計數
- C7=CRC 錯誤次數
- DA=CRC 錯誤次數
- E7=SSD 壽命剩下
- E9=寫入快閃記憶體的壽命
- F0=磁性寫頭
- F1=主機寫入
- F2=主機讀取
- F4=平均抹除次數
- F5=最大抹除次數
- F6=總計抹除次數
- [SmartNVMe] ;Added 6.7.0
- 01=嚴重警告
- 02=綜合溫度
- 03=可用備用
- 04=可用的備用臨界值
- 05=使用的百分比
- 06=資料單位已讀取
- 07=資料單位已寫入
- 08=主機讀取命令
- 09=主機寫入命令
- 0A=控制器繁忙時間
- 0B=關閉電源
- 0C=總通電時間
- 0D=不安全關機
- 0E=介質和資料完整性錯誤
- 0F=錯誤資訊記錄項目數
- [SmartRealtek] ;Added by Realtek
- 01=原始值錯誤率
- 05=重定位磁區計數
- 09=總通電時間計數
- 0C=關閉電源計數
- A1=GDN
- A2=總抹除次數
- A3=最大 PE 循環
- A4=平均抹除次數
- A5=初始化壞塊計數
- A6=總壞塊計數
- A7=SSD 保護模式
- A8=SATA Phy 錯誤計數
- A9=健康狀態
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AE=未預期的電源中斷次數
- AF=ECC 失敗次數
- B5=非實體對齊頁面存取次數
- BB=報告不可糾正錯誤
- C2=外殼溫度
- C3=累積校正 ecc
- C4=重定位事件計數
- C7=Ultra DMA CRC 錯誤次數
- CE=最小抹除次數
- CF=最大抹除次數
- E7=剩餘壽命
- E8=可用的保留空間
- F1=寫入壽命時間
- F2=讀取壽命時間
- F9=寫入 NAND 的總 GB
- FA=寫入 NAND 的總 GB (SLC)
- [SmartSKhynix] ; Updated 8.8.0
- 01=底層資料讀取錯誤率
- 05=重新分配的磁區計數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- 64=抹除次數總計
- A8=最小抹除次數
- A9=最大抹除次數
- AA=保留區塊數量
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AE=未預期的電源中斷次數
- AF=程式失敗次數(最遭狀況)
- B0=抹除失敗次數(最遭狀況)
- B1=顆粒平均擦寫次數
- B2=已使用的保留空間數(最遭狀況)
- B3=已使用的保留空間數(SSD 總計)
- B4=未使用的保留空間數(SSD 總計)
- B5=程式失敗次數(SSD 總計)
- B6=抹除失敗次數(SSD 總計)
- B7=SATA 降級執行計數
- B8=終端校驗出錯偵測次數
- BB=無法校正的錯誤次數
- BC=通訊超時次數
- BF=操作衝擊事件計數
- C2=硬碟溫度
- C3=ECC 錯誤率
- C4=重定位事件計數
- C6=無法校正的磁區計數
- C7=高速傳輸模式錯誤次數
- C9=無法校正的軟體讀取錯誤率
- CC=邏輯 ECC 校正率
- D4=Phy 錯誤次數
- E7=SSD 壽命剩下
- E9=SSD 壽命剩下
- EA=NAND 已寫入
- F1=對 SSD 累計寫入
- F2=對 SSD 累計讀取
- FA=NAND 讀取重試次數總數
- [SmartKioxia] ; Added 8.8.0
- 09=總通電時間
- 0C=裝置開關電源次數
- A7=SSD 保護模式
- A8=SATA Phy 錯誤次數
- A9=損壞區塊數
- AD=抹除次數 (使用者資料)
- C0=未預期的電源中斷次數
- C2=硬碟溫度
- F1=對 SSD 累計寫入
- [SmartWdc] ; Added 8.8.0
- 01=底層資料讀取錯誤率
- 05=已淘汰區塊數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- A5=區塊抹除次數 (SLC)
- A6=最小 P/E 週期
- A7=最大損壞區塊/晶粒
- A8=最大 P/E 週期
- A9=損壞區塊總計
- AA=增長的損壞區塊
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AD=平均 P/E 週期
- AE=未預期的電源中斷次數
- B8=終端校驗出錯偵測/校正次數
- BB=報告不可糾正錯誤
- BC=通訊超時次數
- C2=硬碟溫度
- C7=高速傳輸模式錯誤次數
- D4=SATA PHY 錯誤
- E6=介質耗損指標
- E8=可用保留空間
- E9=總計 GB 寫入 NAND
- EA=總計 GB 寫入 NAND (SLC)
- EE=介質耗損指標 (剩餘週期)
- F1=總計 GB 寫入
- F2=總計 GB 讀取
- F3=總計 NAND 寫入
- F4=硬碟溫度節流狀態
- F9=NAND GB 已寫入
- [SmartKingstonSuv]
- ; https://media.kingston.com/support/downloads/UV400-SMART-attribute.pdf
- ; https://media.kingston.com/support/downloads/UV500_SMART_attribute.pdf
- 01=底層資料讀取錯誤率
- 05=重定位磁區計數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- AA=已使用的保留空間數
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AE=意外電源關閉次數
- AF=程式失敗次數最差晶粒
- B0=抹除失敗次數最差晶粒
- B1=顆粒平均擦寫次數
- B2=已使用的保留空間數最差晶粒
- B4=未使用的保留空間數 (SSD 總計)
- BB=報告不可糾正錯誤
- C2=硬碟溫度
- C3=ECC 運作中錯誤次數
- C4=重定位事件計數
- C5=等候重定的磁區計數
- C7=UDMA 高速傳輸模式錯誤次數
- C9=不可糾正底層資料讀取錯誤率
- CC=邏輯 ECC 校正率
- E7=SSD 壽命剩下
- EA=Nand 寫入壽命
- F1=主機寫入壽命
- F2=主機讀取壽命
- FA=NAND 讀取重試總數
- [SmartKingstonKC600]
- ;https://media.kingston.com/support/downloads/KC600-SMART-attribute.pdf
- 01=底層資料讀取錯誤率
- 05=重定位 NAND 區塊計數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- 94=保留
- 95=保留
- 96=保留
- 97=SLC 平均抹除次數
- 9F=DRAM 1 位元錯誤次數
- A0=報告 UECC (不可糾正) 錯誤
- A1=可用的保留空間
- A4=保留
- A5=保留
- A6=保留
- A7=平均抹除次數
- A8=保留
- A9=額定剩餘壽命的百分比
- B1=保留
- B5=程式失敗次數
- B6=抹除失敗次數
- C0=未預期的電源中斷次數
- C2=裝置硬碟溫度
- C3=硬體錯誤修正編碼復原
- C4=重定位事件計數
- C7=UDMA 高速傳輸模式錯誤次數
- E7=額定剩餘壽命的百分比
- E8=Un已使用的保留空間數
- F1=LBA(邏輯區塊定址)寫入總數
- F2=LBA(邏輯區塊定址)讀取總數
- F5=媒體寫入總數
- [SmartKingstonDC500]
- ;https://media.kingston.com/support/pdf/MKP_521-7_SMART-DC500_attribute_hr.pdf
- 01=主機 UNC 錯誤次數
- 09=總通電時間
- 0C=電源開/關週期
- A7=保護模式
- A8=SATA Phy 錯誤次數
- A9=損壞磁區率
- AA=損壞磁區資訊
- AC=抹除失敗次數
- AD=抹除次數
- B5=程式失敗次數
- B6=抹除失敗次數
- BB=主機 UNC 錯誤次數
- C0=未預期的電源中斷次數
- C2=硬碟溫度
- C4=以後損壞區塊數總計
- C7=高速傳輸模式錯誤次數
- CF=熱節流計數
- DA=高速傳輸模式錯誤次數
- E7=剩餘 SSD 使用壽命
- E8=讀取失敗次數
- E9=NAND 寫入
- F1=主機寫入
- F2=主機讀取
- F4=平均抹除次數
- F5=最大抹除次數
- F6=抹除次數總計
- [SmartKingstonSA400]
- ;https://github.com/hiyohiyo/CrystalDiskInfo/issues/20
- 01=不可糾正錯誤
- 09=總通電時間
- 0C=關閉電源
- 94=廠商特有
- 95=廠商特有
- A7=廠商特有
- A8=SATA Phy 錯誤次數
- A9=廠商特有
- AA=損壞區塊數
- AC=廠商特有
- AD=抹除次數
- B5=廠商特有
- B6=廠商特有
- BB=不可糾正 ECC 錯誤
- C2=硬碟溫度
- C4=重定位事件
- C7=SATA CRC 錯誤
- DA=高速傳輸模式錯誤次數
- E7=SSD 磨損指示器
- E9=Nand 寫入壽命
- F1=寫入壽命
- F2=讀取壽命
- F4=平均抹除次數
- F5=Max 抹除次數
- F6=Total 抹除次數
- [SmartSsstc]
- 01=Raw 底層資料讀取錯誤率
- 05=重定位區塊數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- AA=可用的保留空間
- AB=程式失敗次數(總計)
- AC=抹除失敗次數(總計)
- AD=平均程式/抹除次數
- AE=未預期的電源中斷次數
- AF=程式失敗次數 (最遭狀況)
- B0=抹除失敗次數 (最遭狀況)
- B1=顆粒平均擦寫次數
- B2=已使用的保留空間數 (最遭狀況)
- B3=已使用的保留空間數 (總計)
- B4=Un已使用的保留空間數 (總計)
- B7=SATA 介面降級
- B8=終端校驗資料出錯次數
- BB=無法校正的錯誤次數
- BC=通訊超時
- C2=硬碟溫度
- C3=ECC 錯誤率
- C6=離線無法校正的錯誤次數
- C7=SATA 高速傳輸模式錯誤次數
- E5=電源中斷保護故障
- E7=剩餘壽命百分比
- E8=可用的保留空間
- E9=總計 GB 寫入 NAND
- F1=總計主機寫入
- F2=總計主機讀取
- F3=NAND GB 已寫入
- [SmartIntelDc]
- ;https://github.com/hiyohiyo/CrystalDiskInfo/issues/18
- 01=原始讀取錯誤次數
- 05=重定位 Flash 區塊計數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- 0E=裝置容量
- 0F=使用者容量
- 10=可用的備用區塊
- 11=可用的剩餘備用
- AC=區塊抹除失敗總計
- AD=每個區塊最大抹除次數
- AE=未預期的電源中斷次數
- AF=平均抹除次數
- B0=電源中斷保護錯誤
- B5=區塊程式失敗總計
- B8=終端校驗出錯偵測次數
- BB=無法校正的錯誤次數
- C2=硬碟溫度
- C5=等候重定的磁區計數
- C6=離線無法校正的錯誤次數
- C7=高速傳輸模式錯誤次數
- CA=使用的磁碟壽命百分比
- E2=一定時間內的磨損比例
- E3=讀寫比例
- E4=單次測試時間
- EA=主機位元組讀取總數
- EB=主機位元組/磁區寫入總數
- F1=Nand 位元組/磁區寫入總數
- [SmartApacer]
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- A3=最大抹除次數
- A4=平均抹除次數
- A6=之後損壞區塊數總計
- A7=SSD 保護模式
- A8=SATA Phy 錯誤次數
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AF=損壞叢集表數
- C0=未預期的電源中斷次數
- C2=硬碟溫度
- E7=剩餘壽命
- F1=總計磁區寫入
- [SmartSiliconMotion]
- 01=底層資料讀取錯誤率
- 05=重定位磁區計數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- 94=SLC 總計抹除次數
- 95=SLC 最大抹除次數
- 96=SLC 最小抹除次數
- 97=SLC 平均抹除次數
- 9F=DRAM 1 位元錯誤次數
- A0=讀取/寫入時的不可糾正磁區計數
- A1=有效的備用區塊數
- A2=快取資料區塊數
- A3=初始無效區塊數
- A4=總計抹除次數
- A5=最大抹除次數
- A6=最小抹除次數
- A7=平均抹除次數
- A8=規格的最大抹除次數
- A9=剩餘壽命
- AF=最差晶粒中的程式失敗次數
- B0=最差晶粒中的抹除失敗次數
- B1=顆粒平均擦寫次數總計
- B2=執行階段無效區塊計數
- B5=程式失敗次數總計
- B6=抹除失敗次數總計
- BB=無法校正的錯誤次數
- C0=電源關閉磁頭收回計數
- C2=硬碟溫度
- C3=硬體錯誤修正編碼復原
- C4=重定位事件計數
- C5=等候重定的磁區計數
- C6=無法校正的錯誤次數離線
- C7=Ultra DMA 高速傳輸模式錯誤次數
- E8=可用的保留空間
- F1=對 SSD 累計寫入
- F2=對 SSD 累計讀取
- F5=Flash 寫入磁區計數
- [SmartJMicron66x]
- 01=底層資料讀取錯誤率
- 02=讀寫通量效能
- 03=碟片啟動時間
- 05=重定位磁區計數
- 07=尋道錯誤率
- 08=尋道效能
- 09=總通電時間
- 0A=啟動重試次數
- 0C=開關電源次數
- A7=SSD 保護模式
- A8=SATA Phy 錯誤次數
- AA=損壞區塊數
- AD=抹除次數
- AF=損壞叢集表數
- B4=備用區塊計數
- C0=未預期的電源中斷次數
- C2=硬碟溫度
- C5=等候重定的磁區計數
- E7=磁碟壽命
- E9=寫入磁區計數 (NAND)
- F0=磁性寫頭
- F1=對 SSD 累計寫入
- F2=對 SSD 累計讀取
- [SmartPhison]
- 01=底層資料讀取錯誤率
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- A8=SATA Phy 錯誤次數
- AA=損壞區塊數
- AD=抹除次數
- C0=未預期的電源中斷次數
- C2=硬碟溫度
- DA=CRC 錯誤數
- E7=SSD 壽命剩下
- F1=對 SSD 累計寫入
- [SmartSeagate]
- ; https://crystalmark.info/board/c-board.cgi?cmd=one;no=1818;id=#1818
- 01=底層資料讀取錯誤率
- 05=已淘汰磁區數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- 10=可用的備用區塊
- 11=剩餘的備用區塊
- A8=SATA Phy 錯誤次數
- AA=損壞區塊數
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AD=抹除次數
- AE=未預期的電源中斷次數
- B1=耗損範圍差異
- B5=程式失敗次數
- B6=抹除失敗次數
- C0=未預期的電源中斷次數
- C2=硬碟溫度
- C9=軟體錯誤率
- CC=邏輯 ECC 校正率
- DA=高速傳輸模式錯誤次數
- E7=SSD 壽命剩下
- E8=讀取失敗磁區數
- E9=NAND GiB 已寫入
- EA=寫入快閃記憶體的壽命
- EB=NAND 磁區已寫入
- F1=寫入壽命
- F2=讀取壽命
- FA=NAND 讀取重試壽命
- [SmartSeagateIronWolf]
- ; https://www.seagate.com/www-content/manuals/ironwolf-110-ssd/pdf/IronWolf_110_SSD_PM-100841919_B.pdf
- 01=Raw 底層資料讀取錯誤率
- 05=重定位磁區計數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- 64=已抹除的快閃記憶體千兆位元組
- 66=PS4 項目計數壽命
- 67=PS3 結束計數壽命
- AA=增長的損壞區塊數
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AD=平均程式/抹除次數
- AE=未預期的電源中斷次數
- B1=耗損範圍差異
- B7=SATA/PCIe 介面降級執行計數
- BB=不可糾正的 ECC 計數
- C2=硬碟溫度
- C3=RAISE ECC 可糾正計數
- C6=不可糾正的讀取錯誤計數
- C7=SATA R-Error (CRC) 錯誤計數
- E6=磁碟壽命保護狀態
- E7=SSD 壽命剩下
- E8=可用的保留空間
- E9=寫入快閃記憶體的壽命
- F1=寫入壽命
- F2=讀取壽命
- F3=可用空間
- [SmartMarvell] ; Added 8.8.3
- 05=新的損壞區塊數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- A4=抹除次數總計
- A5=最大抹除次數
- A6=最小抹除次數
- A7=平均抹除次數
- C0=關閉電源縮回計數
- C2=硬碟溫度
- C7=SATA 高速傳輸模式錯誤次數
- F1=總計寫入
- F2=總計讀取
- [SmartMaxiotek] ; Added 8.8.6
- 05=重定位磁區計數
- 09=總通電時間
- 0C=磁碟開關電源次數
- A7=SSD 保護模式
- A8=Phy 錯誤次數
- A9=損壞區塊數
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AD=抹除次數
- AF=損壞叢集表數
- B1=讀取重試次數
- B4=剩餘備用區塊數
- BB=報告的 UNC 錯誤
- C0=未預期的電源中斷次數
- C2=硬碟溫度
- C4=重定位事件計數
- C7=UDMA 高速傳輸模式錯誤次數
- CE=最小抹除次數
- CF=最大抹除次數
- D0=平均抹除次數
- D1=SLC 區塊的最小抹除次數
- D2=SLC 區塊的最大抹除次數
- D3=SLC 區塊的平均抹除次數
- E7=SSD 壽命剩下
- E9=將計數磁區寫入 Nand
- EA=從 Nand 讀取計數磁區
- F1=寫入磁區計數
- F2=讀取磁區計數
- F5=位元錯誤計數
- [SmartSeagateBarraCuda] ; Added 8.9.0
- 01=UECC 錯誤次數
- 05=已淘汰磁區數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- 10=可用的備用區塊
- 11=剩餘的備用區塊
- A8=SATA Phy 錯誤次數
- AA=損壞區塊數
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AD=抹除次數
- AE=未預期的電源中斷次數
- B1=耗損範圍差異
- B5=程式失敗次數
- B6=抹除失敗次數
- C0=未預期的電源中斷次數
- C2=硬碟溫度
- C9=軟體錯誤率
- CC=邏輯 ECC 校正率
- DA=高速傳輸模式錯誤次數
- E7=SSD 壽命剩下
- E8=讀取失敗磁區數
- E9=NAND GiB 已寫入
- EA=寫入快閃記憶體的壽命
- EB=NAND 磁區已寫入
- F1=寫入壽命
- F2=讀取壽命
- FA=NAND 讀取重試壽命
- [SmartYmtc] ; Added 8.10.0
- 05=新的損壞區塊數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- AA=最大損壞區塊數
- A8=SATA PHY 錯誤次數
- A9=損壞區塊數
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AD=抹除次數
- AF=損壞叢集計數
- B7=SATA 介面降級
- B8=終端校驗出錯偵測/校正次數
- BB=無法校正的錯誤次數
- BE=溫度
- C0=未預期的電源中斷次數
- C4=重定位事件計數
- C7=高速傳輸模式錯誤次數
- CE=最小抹除次數
- CF=最大抹除次數
- D0=平均抹除次數
- D1=SLC 最小抹除次數
- D2=SLC 最大抹除次數
- D3=SLC 平均抹除次數
- E7=SSD 壽命剩下
- E9=將磁區計數寫入 NAND
- EA=讀取 NAND 磁區計數
- F1=LBA(邏輯區塊定址)寫入總數
- F2=LBA(邏輯區塊定址)讀取總數
- F3=NAND 溫度
- F5=位元錯誤次數
- [SmartScy] ;Added 8.12.8
- 01=原始底層資料讀取錯誤率
- 05=重定位磁區計數
- 07=尋道錯誤率
- 09=總通電時間
- 0C=磁碟開關電源次數
- A7=平均抹除次數
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AD=抹除次數
- B1=讀取重試次數
- B4=剩餘備用區塊數
- B7=執行階段損壞磁區
- BB=報告的 UNC 錯誤
- C0=未預期的電源中斷次數
- C2=受控溫度
- C3=累計校正過的 ECC
- C4=重定位事件計數
- C5=等候重定的磁區
- C7=UDMA 高速傳輸模式錯誤次數
- E7=SSD 壽命剩下
- F1=LBA(邏輯區塊定址)寫入總數
- F2=LBA(邏輯區塊定址)讀取總數
- F5=Nand Flash 累計寫入
- [SmartRecadata] ;Added 8.14.0
- 07=尋道錯誤率
- 09=總通電時間
- 0C=磁碟開關電源次數
- A7=平均抹除次數
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AD=抹除次數
- B1=讀取重試次數
- B4=剩餘備用區塊數
- B7=執行階段損壞磁區
- BB=報告的 UNC 錯誤
- C0=未預期的電源中斷次數
- C2=受控溫度
- C3=累計校正過的 ECC
- C4=重定位事件計數
- C5=等候重定的磁區
- C7=UDMA 高速傳輸模式錯誤次數
- E7=SSD 壽命剩下
- F1=LBA(邏輯區塊定址)寫入總數
- F2=LBA(邏輯區塊定址)讀取總數
- F5=Nand Flash 累計寫入
- [SmartSanDiskHp] ;Added 8.17.0
- 01=原始讀取錯誤率
- 05=已淘汰區塊數
- 09=總通電時間
- 0C=磁碟開關電源次數
- AA=保留區塊數量
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AD=顆粒平均擦寫次數
- AE=未預期的電源中斷次數
- B0=未使用的保留空間數
- B7=SATA 介面降級執行計數
- B8=終端校驗出錯偵測/校正次數
- BB=無法校正的錯誤次數
- BC=命令逾時
- BE=氣流溫度
- C2=硬碟溫度
- C4=重定位事件計數
- C7=高速傳輸模式錯誤次數
- C9=SSD 壽命剩下
- E6=介質耗損指標
- F1=LBA(邏輯區塊定址)寫入總數
- F2=LBA(邏輯區塊定址)讀取總數
- F3=節流統計資料
- F4=溫度節流狀態
- F9=TLC NAND GB 寫入
- [SmartSanDiskHpVenus] ;Added 8.17.0
- 01=原始讀取錯誤率
- 05=已淘汰區塊數
- 09=總通電時間
- 0C=磁碟開關電源次數
- AA=保留區塊數量
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AD=顆粒平均擦寫次數
- AE=未預期的電源中斷次數
- B0=未使用的保留空間數
- B7=SATA 介面降級執行計數
- B8=終端校驗出錯偵測/校正次數
- BB=無法校正的錯誤次數
- BC=命令逾時
- BE=氣流溫度
- C2=硬碟溫度
- C4=重定位事件計數
- C7=高速傳輸模式錯誤次數
- C9=SSD 壽命剩下
- E6=介質耗損指標
- F1=LBA(邏輯區塊定址)寫入總數
- F2=LBA(邏輯區塊定址)讀取總數
- F3=NAND 累計寫入
- F4=溫度節流狀態
- F9=TLC NAND GB 寫入
- [SmartSanDiskDell] ;Added 8.17.0
- 05=已淘汰區塊數
- 09=總通電時間
- 0C=磁碟開關電源次數
- AF=程式失敗次數 (最糟情況元件)
- B0=抹除失敗次數 (最糟情況元件)
- B1=顆粒平均擦寫次數
- B2=已使用的保留空間數 (最糟情況元件)
- B3=已使用的保留空間數 (SSD 總計)
- B4=剩餘保留空間數 (SSD 總計)
- B5=程式失敗次數 (SSD 總計)
- B6=抹除失敗次數 (SSD 總計)
- BB=無法校正的錯誤次數
- C2=硬碟溫度
- C3=ECC 錯誤率
- C7=高速傳輸模式錯誤次數
- E6=介質耗損指標
- EE=介質耗損指標 (剩餘週期)
- F1=LBA(邏輯區塊定址)寫入總數
- F2=LBA(邏輯區塊定址)讀取總數
- [SmartSanDiskLenovo] ;Added 8.17.0
- 05=已淘汰區塊數
- 09=總通電時間
- 0C=磁碟開關電源次數
- A6=最小 P/E 週期
- A7=最大損壞區塊/晶粒
- A8=最大 P/E 週期
- A9=損壞區塊總計
- AA=增長的損壞區塊
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AD=平均 P/E 週期屬性
- AE=未預期的電源中斷次數
- B2=已使用的保留空間數
- B4=剩餘保留空間數
- B8=終端校驗出錯偵測/校正次數
- BB=UECC 計數
- BC=命令逾時
- C2=硬碟溫度
- C7=SATA CRC 錯誤
- D4=SATA PHY 錯誤
- E6=介質耗損指標
- E8=可用的保留空間
- E9=總計 GB 寫入 NAND
- EA=總計 GB 寫入 NAND (SLC)
- F1=總計主機 GB 寫入
- F2=總計 GB 讀取
- F3=節流統計資料
- F4=溫度節流狀態
- [SmartSanDiskLenovoHelenVenus] ;Added 8.17.0
- 05=已淘汰區塊數
- 09=總通電時間
- 0C=磁碟開關電源次數
- A6=最小 P/E 週期
- A7=最大損壞區塊/晶粒
- A8=最大 P/E 週期
- A9=損壞區塊總計
- AA=增長的損壞區塊
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AD=平均 P/E 週期屬性
- AE=未預期的電源中斷次數
- B2=已使用的保留空間數
- B4=剩餘保留空間數
- B8=終端校驗出錯偵測/校正次數
- BB=UECC 計數
- BC=命令逾時
- C2=硬碟溫度
- C7=SATA CRC 錯誤
- D4=SATA PHY 錯誤
- E8=可用的保留空間
- E9=介質耗損指標
- EA=總計 GB 寫入 NAND (SLC)
- F1=總計主機 GB 寫入
- F2=總計 GB 讀取
- F3=節流統計資料
- F4=熱節流狀態
- F9=NAND GB 寫入 (TLC)
- [SmartMicronMU03] ;Added 8.17.0
- 01=原始讀取錯誤率
- 05=重定位 NAND 區塊計數
- 09=總通電時間
- 0C=開關電源次數
- AB=程式失敗次數
- AC=抹除失敗次數
- AD=平均區塊抹除次數
- AE=未預期的電源中斷次數
- B4=未使用的備用 NAND 區塊
- B5=非 4K 對齊存取
- B7=SATA 介面降級執行計數
- B8=錯誤校正次數
- BB=報告不可糾正錯誤
- C2=硬碟溫度
- C4=重定位事件計數
- C5=等候重定 ECC 計數
- C6=SMART 離線掃描無法校正的錯誤次數
- C7=UDMA 高速傳輸模式錯誤次數
- CA=剩餘壽命
- CE=寫入錯誤率
- D2=成功 RAIN 復原次數
- F0=主機程式資料頁數
- F1=LBA(邏輯區塊定址)寫入總數
- F2=LBA(邏輯區塊定址)讀取總數
- F3=程式資料頁數總計
- F6=累計主機磁區寫入
- F7=主機程式 NAND 資料頁數
- F8=FTL 程式 NAND 資料頁數
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