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- [Information]
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- TRANSLATOR=Huoxingdawang, haobinnan, Intervenor, CrcbAk, chriszxl (小良奇), Ericus, 赵然, zby, yfdyh000
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- [Language]
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- WIKIPEDIA_SMART=https://zh.wikipedia.org/wiki/S.M.A.R.T.
- [Menu]
- FILE=文件(&F)
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- AUTO_REFRESH_TARGET_ALL_DISK=自动刷新 - 选中所有硬盘(&G)
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- HELP_WEB=帮助 [网页](&H)
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- LANGUAGE=语言(&L)
- ITEM=项目(&I)
- TEMPERATURE_TYPE=温度类型(&E)
- CELSIUS=摄氏(°C)
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- HEALTH_STATUS_SETTING=健康状态门限设置(&H)
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- OPTION=选项(&O)
- LEGEND_POSITION=图例位置(&L)
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- RESIDENT_STYLE=常驻模式(&Y)
- MINIMIZE=最小化
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- AUTO=自动(&A)
- ATTRIBUTE=属性(&A)
- ;3.5.0
- ASCII_VIEW=解析 ASCII 内容
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- :3.9.4
- WORKAROUND=特殊方案(&O)
- ;4.0.0
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- MAIL_SETTINGS=邮件设置
- SMART_IN_ENGLISH=用英文显示 S.M.A.R.T. 属性
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- EXIT=退出
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- AUTO_REFRESH_TARGET_ALL_DISK=自动刷新 - 选中所有硬盘
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- ALARM_SETTING_TEMPERATURE=警报设置 - 温度
- ALARM_SETTING_HEALTH_STATUS=警报设置 - 健康状态
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- ;Added 3.0
- SHOW_TEMPERATURE_ICON_ONLY=仅显示温度图标
- [DiskStatus]
- GOOD=良好
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- UNKNOWN=未知
- DISK=硬盘
- [Dialog]
- LIST_ID=ID
- LIST_CURRENT=当前值
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- LIST_THRESHOLD=临界值
- LIST_RAW_VALUES=原始值
- ;LIST_DESCRIPTION=描述
- LIST_ATTRIBUTE_NAME=属性名称
- FIRMWARE=固件
- SERIAL_NUMBER=序列号
- INTERFACE=接口
- STANDARD=标准
- TRANSFER_MODE=传输模式
- BUFFER_SIZE=缓冲区大小
- NV_CACHE_SIZE=非易失性缓存大小
- ROTATION_RATE=转速
- TEMPERATURE=温度
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- POWER_ON_COUNT=通电次数
- DRIVE_LETTER=驱动器号
- FEATURE=支持的功能
- HEALTH_STATUS=健康状态
- UNKNOWN=未知
- POWER_ON_COUNT_UNIT=次
- POWER_ON_HOURS_UNIT=小时
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- POWER_ON_YEARS_UNIT=年
- ;4.3
- TOTAL_HOST_WRITES=主机总计写入
- TOTAL_HOST_READS=主机总计读取
- TOTAL_NAND_WRITES=NAND 总计写入
- ;4.5
- WEAR_LEVELING_COUNT=平均磨损计数
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- CURRENT_MODE_SUPPORTED_MODE=当前的传输模式 | 支持的传输模式
- MAJOR_VERSION_MINOR_VERSION=主要版本 | 次要版本
- ;8.5.0
- FONT_FACE=字体
- FONT_SCALE=显示比例 (%)
- DEFAULT=默认
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- ;8.9.0
- ENABLED=启用
- DISABLED=禁用
- [Message]
- DETECT_UNIT_POWER_ON_HOURS=正在检测“通电时间”属性的单位(需要约 130 秒)
- DETECT_DISK=正在检测硬盘
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- [Alarm]
- ALARM_TEMPERATURE=警报 - 温度
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- DEGRADATION=老化
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- ;3.5.0
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- [Graph]
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- ACTUAL_VALUE=原始数据值
- NORMALIZED_VALUE=规范化当前值
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- ALL_OFF=全关
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- [Customize]
- LINE_COLOR=线颜色
- BACKGROUND_IMAGE=背景图片
- SUPPORTED_IMAGE_FORMAT=支持的图像格式
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- ;5.0.0
- SUPPORTED_SOUND_FORMAT=支持的声音格式
- [AamApm]
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- AAM_RECOMMEND=推荐值
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- APM_HIGH=性能模式 (FEh) ->
- ;3.5.0
- AUTOMATIC_ACOUSTIC_MANAGEMENT=自动噪音管理 (AAM)
- ADVANCED_POWER_MANAGEMENT=高级电源管理 (APM)
- [WindowTitle]
- ABOUT=关于 CrystalDiskInfo
- GRAPH=图表
- CUSTOMIZE=自定义
- VERSION_INFORMATION=版本信息
- AAM_APM_CONTROL=AAM/APM 控制
- HEALTH_STATUS_SETTING=健康状态设置
- ;5.0.0
- ALARM_HISTORY=警报历史
- SOUND_SETTINGS=声音设置
- ;5.1.0
- FONT_SETTING=字体设置
- [HealthStatus]
- THRESHOLD_OF_CAUTION=告警门限
- APPLY=应用
- DEFAULT=默认
- [Smart]
- UNKNOWN=未知项目
- VENDOR_SPECIFIC=由厂商定义
- 01=读取错误率
- 02=吞吐性能
- 03=起转用时
- 04=启停次数
- 05=重新分配扇区数
- 06=读取通道余量
- 07=寻道错误率
- 08=寻道时间性能
- 09=通电时间(小时)
- 0A=起转重试次数
- 0B=重新校准重试次数
- 0C=通电次数
- 0D=软读取错误率探针
- 16=目前氦气水平
- B8=端到端错误
- BB=报告的不可校正错误
- BC=命令超时
- BD=磁头非正常高度写入
- BE=气流温度
- BF=加速度感应错误率
- C0=断电磁头缩回计数
- C1=磁头加载/卸载循环计数
- C2=温度
- C3=硬件 ECC 校正计数
- C4=扇区物理位置重分配事件计数(与坏道相关)
- C5=有待处置扇区数(状态存疑-需保持关注)
- C6=不可校正的扇区数
- C7=UltraDMA CRC 错误计数(与数据线或接口相关)
- C8=写入错误率
- C9=软读取错误率
- CA=数据地址标记错误
- CB=校验和错误
- CC=软 ECC 校正
- CD=热骚动率(高温导致的出错)
- CE=磁头飞行高度
- CF=起转最大电流
- D0=起转蜂鸣/起转阶梯(欠压启动时马达加速的流程数)
- D1=离线寻道性能
- D3=写入期间振动(振荡)
- D4=写入期间震动(冲击)
- DC=盘片位移
- DD=加速度感应错误率
- DE=加载所用小时数(磁头电机运转)
- DF=加载/卸载重试计数
- E0=加载摩擦
- E1=加载/卸载循环计数
- E2=磁头待命时间总计(磁头从停泊区伸出)
- E3=扭矩放大计数
- E4=断电磁头缩回计数
- E6=巨磁阻磁头振幅
- E7=温度
- F0=磁头飞行小时数
- FA=读取错误重试率
- FE=自由落体保护
- ;Updated 5.4.0
- F1=主机总计写入
- F2=主机总计读取
- [SmartSsd]
- 01=读取错误率
- 02=吞吐性能
- 03=启动时间
- 04=启动-停止次数
- 05=重新分配扇区计数
- 06=读取通道余量
- 07=寻址错误率
- 08=寻址时间性能
- 09=通电时间(小时)
- 0A=启动重试次数
- 0B=重新校准重试次数
- 0C=通电次数
- 0D=软读取错误率探针
- C0=不安全关机计数
- C2=温度
- C4=扇区位置重分配事件计数
- C5=有待处置扇区数
- C6=不可校正的扇区数
- ; CrystalDiskInfo assign
- FF=剩余寿命
- ;Updated 5.4.0
- F1=主机总计写入
- F2=主机总计读取
- [SmartMtron]
- BB=总计擦除次数
- [SmartIndilinx]
- 01=读取错误率
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- B8=出厂坏块计数
- C2=温度
- C3=编程失败块数
- C4=擦除失败块数
- C5=读取失败块数
- C6=读取扇区数总计
- C7=写入扇区数总计
- C8=读取命令数总计
- C9=写入命令数总计
- CA=闪存比特位出错数总计
- CB=读取扇区遇可校正比特位错误总计
- CC=坏块满标志
- CD=最大 PE(编程/擦除) 次数规格
- CE=最小擦除次数
- CF=最大擦除次数
- D0=平均擦除次数
- D1=剩余使用寿命
- [SmartJMicron60x]
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- C2=温度
- E5=Half 系统 ID,闪存 ID
- E8=固件版本信息
- E9=ECC 失败记录
- EA=平均擦除次数,最大擦除次数
- EB=良好块计数,系统块计数
- [SmartIntel]
- 03=启动时间
- 04=启动停止次数
- 05=重新分配扇区计数
- 09=通电时间
- 0C=通电次数
- AA=可用保留空间
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AE=意外断电
- AF=掉电保护失败
- B7=SATA 接口性能降级计数
- B8=端到端错误检测计数
- BB=不可校正错误计数
- BE=温度
- C0=不安全关闭计数
- C2=温度
- C5=有待处置扇区数
- C7=CRC 错误计数
- E1=主机写入
- E2=周期内负载介质磨损
- E3=周期内负载主机读/写比率 (读操作占比)
- E4=周期内负载计时器
- E8=可用保留空间
- E9=介质磨损指示器
- EA=温控状态
- F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
- F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计
- F3=NAND 写入量总计
- F9=NAND 写入量总计
- [SmartSamsung] ;Updated 6.6
- 05=重新分配扇区计数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- AF=编程失败计数(芯片)
- B0=擦除失败计数(芯片)
- B1=闪存磨损平均计数
- B2=已使用的保留块计数(芯片)
- B3=已使用的保留块计数(总计)
- B4=未使用的保留块计数(总计)
- B5=编程失败计数(总计)
- B6=擦除失败计数(总计)
- B7=运行中的坏块(总计)
- BB=不可校正错误计数
- BE=气流温度
- C2=温度
- C3=ECC 错误率
- C6=离线不可校正错误计数
- C7=CRC 错误计数
- C9=断电保护电容状态
- CA=SSD 模式状态
- EB=电源恢复计数(意外断电的次数)
- F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
- F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计
- ;Added 6.6
- AA=未使用保留块计数(芯片)
- AB=编程失败计数(芯片)
- AC=擦除失败计数(芯片)
- AD=闪存磨损平均计数
- AE=意外断电计数
- B8=错误检测
- E9=标准化后的介质磨损
- [SmartSandForce] ;Updated 3.7.0
- 01=原始读取错误率
- 05=老化块数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- 0D=软读取错误率
- 64=已擦除 GiB
- AA=保留块计数
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AE=意外断电计数
- B1=磨损率差异(磨损最严重与最轻的块的差异)
- B5=编程失败计数
- B6=擦除失败计数
- B8=已报告的 I/O 检错码错误
- BB=已报告的不可校正错误
- C2=温度
- C3=自适应 ECC 不可校正错误计数
- C4=重新分配事件计数
- C6=不可校正扇区计数
- C7=SATA 除错(CRC)错误计数
- C9=不可校正的软读取错误率
- CC=软 ECC 校正率
- E6=驱动器寿命保护状态
- E7=SSD 剩余寿命
- E8=可用保留空间
- EB=断电保护电容状态
- F1=主机总计写入
- F2=主机总计读取
- [SmartJMicron61x] ;Added 3.9.0
- 01=读取错误率
- 02=吞吐性能
- 03=启动时间
- 05=重新分配扇区计数
- 07=寻址错误率
- 08=寻址时间性能
- 09=通电时间(小时)
- 0A=启动重试次数
- 0C=通电次数
- A8=SATA 物理层错误计数
- AF=坏簇表计数(ECC 失败计数)
- C0=意外断电次数
- C2=温度
- C5=有待处置扇区数
- AA=坏块计数
- AD=擦除计数
- [SmartMicron] ;Added 4.0.0/ Updated 6.6.0
- ; RAIN = Redundant Array of Independent NAND (独立 NAND 冗余阵列)
- 01=底层读取错误率
- 05=重新分配扇区计数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- 0D=软错误率
- 0E=设备容量(NAND)
- 0F=用户可用容量
- 10=可用备用块
- 11=剩余的备用块
- 64=擦除次数总计
- AA=保留块计数
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=平均块擦除计数
- AE=意外断电计数
- B4=未使用的 NAND 保留块
- B5=未对齐访问计数
- B7=SATA 接口性能降级
- B8=错误校正计数
- BB=报告的不可校正错误
- BC=命令超时计数
- BD=出厂坏块计数
- C2=温度
- C3=累计 ECC 比特位校正次数
- C4=重新分配事件计数
- C5=有待处置扇区数
- C6=智能离线扫描不可校正的错误计数
- C7=Ultra DMA CRC 错误率
- CA=已使用寿命百分比
- CE=写入错误率
- D2=RAIN(独立 NAND 冗余阵列)成功恢复计数
- EA=读取字节数总计
- F2=距离“禁止写入模式”的剩余备用块数
- F3=ECC 校正比特位计数
- F4=ECC 临界事件数累计(错误率达到/超过ECC校正能力极限的次数)
- F5=累计编程 NAND 页数
- F6=主机扇区写入总计
- F7=主机编程页数
- F8=后台编程页数
- ; Updated 8.11.0
- F9=总计刷新 ISP 计数
- FA=总计执行 RefCal 计数
- FB=总计 NAND Read Plane 计数 (Low 4Bytes)
- FC=总计 NAND Read Plane 计数 (High 4Bytes)
- FD=总计块重映射计数
- FE=总计后台扫描超过限制计数
- DF=总计后台扫描
- [SmartMicronMU02] ;Updated 8.17.0
- ; RAIN = Redundant Array of Independent NAND
- 01=底层读取错误率
- 05=重新分配扇区计数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- 0D=软错误率
- 0E=设备容量(NAND)
- 0F=用户可用容量
- 10=可用备用块
- 11=剩余的备用块
- 64=擦除次数总计
- AA=保留块计数
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=平均块擦除计数
- AE=意外断电计数
- B4=未使用的 NAND 保留块
- B7=SATA 接口性能降级
- B8=错误校正计数
- BB=报告的不可校正错误
- BC=命令超时计数
- BD=出厂坏块计数
- C2=温度
- C3=累计 ECC 比特位校正计数
- C4=重新分配事件计数
- C5=有待处置扇区数
- C6=智能离线扫描不可校正的错误计数
- C7=Ultra DMA CRC 错误率
- CA=已使用寿命百分比
- CE=写入错误率
- D2=RAIN(独立 NAND 冗余阵列)成功恢复计数
- EA=读取字节数总计
- F3=ECC 校正比特位计数
- F4=ECC 临界事件数累计(错误率达到/超过ECC校正能力极限的次数)
- F5=累计编程 NAND 页数
- F6=主机扇区写入总计
- F7=主机编程页数
- F8=FTL 编程页数
- ; Updated 6.6.0
- A0=不可校正扇区计数
- A1=有效备用块数
- A3=初始无效块数
- 94=SLC 总计擦除
- 95=SLC 最大擦除
- 96=SLC 最小擦除
- 97=SLC 平均擦除
- A4=NAND 总计擦除
- A5=NAND 最大擦除
- A6=NAND 最小擦除
- A7=NAND 平均擦除
- A9=剩余寿命百分比
- B5=编程失败计数
- B6=擦除失败计数
- C0=断电磁头缩回计数
- E8=可用保留空间
- F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
- F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计
- F5=NAND 写入总计
- F6=SLC 写入总计
- F7=RAID 恢复计数
- ; Updated 8.10.0
- F9=总计刷新 ISP 计数
- FA=总计执行 RefCal 计数
- FB=总计 NAND Read Plane 计数 (Low 4Bytes)
- FC=总计 NAND Read Plane 计数 (High 4Bytes)
- FD=总计块重映射计数
- FE=总计后台扫描超过限制计数
- DF=总计后台扫描
- [SmartOcz] ;Added 4.5.0
- 01=原始读取错误率
- 03=启动时间
- 04=启动-停止次数
- 05=重新分配扇区计数
- 09=通电小时
- 0C=通电次数
- C2=温度
- E8=写入扇区数总计
- E9=剩余寿命
- ; Added 6.6.0
- 64=总计擦除块
- A7=固态硬盘保护模式 (只读不写)
- A8=SATA 物理层错误计数
- A9=坏块计数
- AD=擦除计数
- B8=出厂坏块计数
- C0=意外断电计数
- CA=校正成功比特位总计
- CD=额定最大 PE(编程/擦除) 次数
- CE=最小擦除次数
- CF=最大擦除次数
- D3=SATA 不可校正错误数
- D4=重试期间 NAND 页读取数
- D5=简单重读尝试数
- D6=自适应重读尝试数
- DD=内部数据路径不可校正的错误数
- DE=RAID 恢复计数
- E6=掉电保护
- FB=NAND 读取计数
- ;Updated 6.7.0
- F1=主机总写入
- F2=主机总读取
- [SmartPlextor] ;Added (5.1.0)/Updated (5.4.0)
- 01=读取错误率
- 05=重新分配扇区计数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- AA=新增坏块
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=平均 PE(编程/擦除) 次数
- AE=意外断电计数
- AF=编程失败计数(最坏情况)
- B0=擦除失败计数(最坏情况)
- B1=闪存磨损平均计数
- B2=已使用保留区块计数(最坏情况)
- B3=已使用保留块计数
- B4=未使用保留块计数(总计)
- B5=编程失败计数
- B6=擦除失败计数
- B7=SATA 接口性能降级
- B8=已校正的端到端数据错误
- BB=不可校正错误计数
- BC=命令超时
- C0=不安全关机次数
- C3=ECC 率
- C4=重新分配事件计数
- C6=不可校正扇区计数
- C7=Ultra CRC 错误计数
- E8=可用保留空间
- E9=NAND 已写入 (GB)
- F1=主机总计写入
- F2=主机总计读取
- [SmartSanDisk] ;Added 5.2.0
- 05=已重分配的块数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- AA=保留块计数
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=平均写入/擦除计数
- AE=意外断电计数
- BB=报告的不可校正错误
- C2=温度
- E6=总计写入/擦除计数的百分比
- E8=剩余寿命
- EA=总计写入/擦除计数的百分比 (BC块)
- F1=主机总计写入
- F2=主机总计读取
- [SmartOczVector] ;Added 5.3.0
- 05=运行中坏块累计
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- AB=可用冗余块计数
- AE=启动-关闭循环次数(意外)
- BB=NAND 读取不可校正总计
- C2=温度
- C3=编程失败总计
- C4=擦除失败总计
- C5=读取失败总计(不可校正)
- C6=主控读取
- C7=主控写入
- D0=平均擦除次数
- D2=SATA CRC 错误计数
- E9=剩余寿命
- F9=NAND 编程总计次数
- ;Updated 5.5.0
- F1=主机总计写入
- F2=主机总计读取
- ;Updated 6.6.0
- 64=擦除块数总计
- B8=出厂坏块总计
- CA=读取成功校正比特位总计
- CD=额定最大 PE(编程/擦除) 次数
- CE=最小擦除次数
- CF=最大擦除次数
- D4=NAND 页读取需要重试总计
- D5=简单重读总计尝试
- D6=自适应重读总计尝试
- DD=内部数据路径保护不可校正的错误数
- DE=RAID 恢复计数
- E0=保修状态
- E1=DAS 极性
- E2=部分电源失效(Pfail)
- E6=写入控制激活标志
- F9=NAND 编程总计 (页)
- FB=NAND 读取总计
- [SmartCorsair] ;Added 6.2.0
- 01=原始读取错误率
- 05=老化块数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- AA=保留块计数
- AC=擦除失败计数
- AE=意外断电计数
- B5=编程失败计数
- BB=报告的不可校正错误
- C2=温度
- C4=重新分配事件计数
- E7=固态硬盘剩余寿命
- F1=总计写入量 (GB)
- F2=总计读取量 (GB)
- [SmartToshiba] ;Added 6.2.0
- 01=读取错误率
- 02=吞吐性能
- 03=启动时间
- 04=启动-停止次数
- 05=重新分配扇区计数
- 07=寻道错误率
- 08=寻道时间性能
- 09=通电小时数
- 0A=启动重试次数
- 0B=重新校准重试次数
- 0C=通电次数
- A7=固态硬盘保护模式 (只读不写)
- A8=SATA 物理层错误计数
- A9=坏块数总计
- AD=擦除计数
- C0=意外断电计数
- C2=温度
- C4=重新分配事件计数
- C5=有待处置扇区数
- C6=不可校正扇区计数
- F1=主机总计写入
- F2=主机总计读取
- [SmartSanDiskGb] ;Added 6.2.0
- 01=读取错误率
- 05=重新分配块计数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- A5=SLC 块擦除计数
- A6=最小 PE(编程/擦除) 次数
- A7=单个裸片中坏块数 (最大)
- A8=最大 P/E 次数
- A9=坏块总计
- AA=增长坏块
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=平均 PE(编程/擦除) 次数
- AE=意外断电计数
- B8=端到端错误检测/校正计数
- BB=报告的不可校正错误
- BC=命令超时计数
- C2=温度
- C7=CRC 错误计数
- D4=SATA 物理层错误计数
- E6=介质磨损指示器
- E7=SSD 剩余寿命
- E8=剩余备用块
- E9=NAND 已写入 (GB)
- EA=NAND 已写入 (SLC) (GB)
- EE=介质磨损指示器 (剩余循环次数)
- F1=总计写入 (GB)
- F2=总计读取 (GB)
- F4=温度门限状态
- F9=NAND 已写入 (GB)
- [SmartKingston] ;Added 6.6.0
- ;https://media.kingston.com/support/downloads/MKP_521_Phison_SMART_attribute.pdf
- 01=读取错误率
- 02=吞吐性能
- 03=起转时间
- 05=重新分配扇区计数
- 07=寻道错误率
- 08=寻道时间性能
- 09=通电时间(小时)
- 0A=起转重试次数
- 0C=通电次数
- A8=SATA 物理层错误计数
- AA=坏块计数
- AD=擦除计数
- AF=坏簇表计数
- BB=不可校正错误计数
- C0=不安全关机计数
- C2=温度
- C4=出厂后坏块
- C5=有待处置扇区数
- C7=CRC 错误计数
- DA=CRC 错误计数
- E7=固态硬盘剩余寿命
- E9=总计写入闪存
- F0=写头
- F1=主机总计写入
- F2=主机总计读取
- F4=平均擦除次数
- F5=最大擦除次数
- F6=总计擦除次数
- [SmartNVMe] ;Added 6.7.0
- 01=严重警告标志
- 02=综合温度
- 03=可用备用空间
- 04=可用备用空间阈值
- 05=已用寿命百分比
- 06=读取单位计数
- 07=写入单位计数
- 08=主机读命令计数
- 09=主机写命令计数
- 0A=控制器忙状态时间
- 0B=启动-关闭循环次数
- 0C=通电时间(小时)
- 0D=不安全关机计数
- 0E=介质与数据完整性错误计数
- 0F=错误日志项数
- [SmartRealtek] ;Added by Realtek
- 01=原始数据错误率
- 05=重新分配扇区计数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- A1=GDN
- A2=擦除计数总计
- A3=最大 PE(编程/擦除) 次数
- A4=平均擦除次数
- A5=初始坏块数
- A6=总计坏块数
- A7=固态硬盘保护模式 (只读不写)
- A8=SATA 物理层错误计数
- A9=健康状态
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AE=意外断电计数
- AF=ECC 校正失败计数
- B5=未对齐访问计数
- BB=报告的不可校正错误
- C2=外壳温度
- C3=ECC 成功校正累计
- C4=重新分配事件计数
- C7=Ultra DMA CRC 错误计数
- CE=最小擦除次数
- CF=最大擦除次数
- E7=剩余寿命
- E8=可用保留空间
- F1=写入寿命
- F2=读取寿命
- F9=NAND 总计写入 (GB)
- FA=NAND 总计写入 (GB) (SLC)
- [SmartSKhynix] ; Updated 8.8.0
- 01=读取错误率
- 05=重新分配扇区计数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- 64=总计擦除次数
- A8=最小擦除次数
- A9=最大擦除次数
- AA=保留块数
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AE=意外断电计数
- AF=编程失败计数 (最坏情况)
- B0=擦除失败计数 (最坏情况)
- B1=闪存磨损平均计数
- B2=已用保留块计数 (最坏情况)
- B3=已用保留块计数 (SSD 总计)
- B4=未用保留块计数 (SSD 总计)
- B5=编程失败计数 (SSD 总计)
- B6=擦除失败计数 (SSD 总计)
- B7=SATA 接口性能降级计数
- B8=端到端错误检测计数
- BB=已报告的不可校正错误
- BC=命令超时计数
- BF=Op Shock 事件计数
- C2=温度
- C3=ECC 率
- C4=重新分配事件计数
- C6=不可校正扇区计数
- C7=CRC 错误计数
- C9=不可校正的软读取错误率
- CC=软 ECC 校正
- D4=物理层错误计数
- E7=SSD 剩余寿命
- E9=SSD 剩余寿命
- EA=NAND 写入量
- F1=LBA(逻辑区块地址)写入总计
- F2=LBA(逻辑区块地址)读取总计
- FA=NAND 读取重试总计
- [SmartKioxia] ; Added 8.8.0
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- A7=固态硬盘保护模式 (只读不写)
- A8=SATA 物理层错误计数
- A9=坏块计数
- AD=擦除计数 (用户数据)
- C0=意外断电计数
- C2=温度
- F1=主机写入
- [SmartWdc]
- 01=读取错误率
- 05=重新分配块计数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- A5=块擦除计数 (SLC)
- A6=最小 PE(编程/擦除) 次数
- A7=单个裸片中坏块数 (最大)
- A8=最大 PE(编程/擦除) 次数
- A9=坏块总计
- AA=新增坏块
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=平均 PE(编程/擦除) 次数
- AE=意外断电计数
- B8=端到端错误检测/校正计数
- BB=报告的不可校正的错误
- BC=命令超时计数
- C2=温度
- C7=CRC 错误计数
- D4=SATA 物理层错误计数
- E6=介质磨损指示器
- E8=剩余备用块
- E9=NAND 总计写入
- EA=NAND 总计写入 (SLC)
- EE=介质磨损指示器 (剩余循环)
- F1=总计写入 (GB)
- F2=总计读取 (GB)
- F3=NAND 总计写入
- F4=温控状态
- F9=NAND 已写入 (GB)
- [SmartKingstonSuv]
- ; https://media.kingston.com/support/downloads/UV400-SMART-attribute.pdf
- ; https://media.kingston.com/support/downloads/UV500_SMART_attribute.pdf
- 01=读取错误率
- 05=重新分配扇区计数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- AA=已使用的保留块计数
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AE=意外断电计数
- AF=编程失败计数 (最差的 Die)
- B0=擦除失败计数 (最差的 Die)
- B1=闪存磨损平均计数
- B2=已使用的保留块计数 (最差的 Die)
- B4=未使用的保留块计数 (SSD 整体)
- BB=报告的不可校正的错误
- C2=温度
- C3=动态 ECC 错误计数
- C4=重新分配事件计数
- C5=有待处置扇区数
- C7=UDMA CRC 错误计数
- C9=不可校正的读取错误率
- CC=软 ECC 校正率
- E7=SSD 剩余寿命
- EA=总计 NAND 写入
- F1=总计主机写入
- F2=总计主机读取
- FA=NAND 读取重试总计
- [SmartKingstonKC600]
- ;https://media.kingston.com/support/downloads/KC600-SMART-attribute.pdf
- 01=读取错误率
- 05=重新分配的 NAND 块数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- 94=预留
- 95=预留
- 96=预留
- 97=SLC 平均擦除次数
- 9F=DRAM 1 比特位错误计数
- A0=报告的 UECC(不可校正)错误
- A1=可用保留空间
- A4=预留
- A5=预留
- A6=预留
- A7=平均擦除次数
- A8=预留
- A9=额定寿命剩余百分比
- B1=预留
- B5=编程失败计数
- B6=擦除失败计数
- C0=意外断电计数
- C2=温度
- C3=硬件 ECC 已修复错误计数
- C4=重新分配事件计数
- C7=UDMA CRC 错误计数
- E7=额定寿命剩余百分比
- E8=未使用的保留块计数
- F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
- F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计
- F5=介质总写入
- [SmartKingstonDC500]
- ;https://media.kingston.com/support/pdf/MKP_521-7_SMART-DC500_attribute_hr.pdf
- 01=主机不可校正错误计数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- A7=保护模式 (只读不写)
- A8=SATA 物理层错误计数
- A9=坏块率
- AA=坏块信息
- AC=擦除失败计数
- AD=擦除计数
- B5=编程失败计数
- B6=擦除失败计数
- BB=主机不可校正错误计数
- C0=意外断电计数
- C2=温度
- C4=出厂后坏块总计
- C7=CRC 错误计数
- CF=温控计数
- DA=CRC 错误计数
- E7=SSD 剩余寿命
- E8=读取失败计数
- E9=NAND 写入
- F1=主机写入
- F2=主机读取
- F4=平均擦除次数
- F5=最大擦除次数
- F6=最小擦除次数
- [SmartKingstonSA400]
- ;https://github.com/hiyohiyo/CrystalDiskInfo/issues/20
- 01=不可校正错误数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- 94=厂商特定项目
- 95=厂商特定项目
- A7=厂商特定项目
- A8=SATA 物理层错误计数
- A9=厂商特定项目
- AA=坏块计数
- AC=厂商特定项目
- AD=擦除计数
- B5=厂商特定项目
- B6=厂商特定项目
- BB=不可校正的 ECC 错误
- C2=温度
- C4=重新分配事件
- C7=SATA CRC 错误计数
- DA=CRC 错误计数
- E7=SSD 磨损指示器
- E9=总计 NAND 写入
- F1=总计主机写入
- F2=总计主机读取
- F4=平均擦除次数
- F5=最大擦除次数
- F6=总计擦除次数
- [SmartSsstc]
- 01=原始读取错误率
- 05=重新分配块计数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- AA=可用保留空间
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=平均编程/擦除(P/E)计数
- AE=意外断电计数
- AF=编程失败计数(最坏情况)
- B0=擦除失败计数(最坏情况)
- B1=闪存磨损平均计数
- B2=已使用的保留块计数(最坏情况)
- B3=已使用的保留块计数(总计)
- B4=未使用的保留块计数(总计)
- B7=SATA 接口性能降级
- B8=端到端数据错误计数
- BB=不可校正错误计数
- BC=命令超时
- C2=温度
- C3=ECC 等级
- C6=离线不可校正错误计数
- C7=SATA CRC 错误计数
- E5=掉电保护失败
- E7=剩余寿命百分比
- E8=可用保留空间
- E9=NAND 已写入 (GB)
- F1=主机总写入
- F2=主机总读取
- F3=NAND 已写入 (GB)
- [SmartIntelDc]
- ;https://github.com/hiyohiyo/CrystalDiskInfo/issues/18
- 01=原始数据读取错误计数
- 05=重新分配闪存块计数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- 0E=设备容量
- 0F=用户容量
- 10=可用备用块
- 11=可用剩余备用
- AC=块擦除失败总计
- AD=每块最大擦除计数
- AE=意外断电计数
- AF=平均擦除次数
- B0=掉电保护错误
- B5=块程序失败总计
- B8=端到端错误检测计数
- BB=不可校正错误计数
- C2=温度
- C5=有待处置扇区数
- C6=离线不可校正错误计数
- C7=CRC 错误计数
- CA=已使用寿命百分比
- E2=特定周期内工作负载 - 介质磨损
- E3=特定周期内工作负载 - 主机读/写比率
- E4=特定周期内工作负载计时器
- EA=温控状态
- EB=主机总计写入字节/扇区
- F1=NAND 总计写入字节/扇区
- [SmartApacer]
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- A3=最大擦除次数
- A4=平均擦除次数
- A6=出厂后坏块数总计
- A7=固态硬盘保护模式 (只读不写)
- A8=SATA 物理层错误计数
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AF=坏簇表计数
- C0=意外断电计数
- C2=温度
- E7=剩余周期
- F1=扇区写入总计
- [SmartSiliconMotion]
- 01=读取错误率
- 05=重新分配扇区计数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- 94=SLC 擦除计数总计
- 95=SLC 最大擦除计数
- 96=SLC 最小擦除计数
- 97=SLC 平均擦除计数
- 9F=DRAM 1 比特位错误计数
- A0=读/写时不可校正的扇区计数
- A1=有效备用块数
- A2=缓存数据块数
- A3=初始无效块数
- A4=擦除计数总计
- A5=最大擦除计数
- A6=最小擦除计数
- A7=平均擦除计数
- A8=Spec 最大擦除次数
- A9=剩余寿命
- AF=程序失败计数 (最差的 Die)
- B0=擦除失败计数 (最差的 Die)
- B1=磨损程度总计
- B2=运行中的无效块计数
- B5=编程失败计数
- B6=擦除失败计数
- BB=不可校正错误计数
- C0=断电重启计数
- C2=温度
- C3=硬件 ECC 已校正错误计数
- C4=重新分配事件计数
- C5=有待处置扇区数
- C6=离线不可校正的错误计数
- C7=Ultra DMA CRC 错误计数
- E8=可用保留空间
- F1=LBA 写入总计
- F2=LBA 读取总计
- F5=闪存写入扇区计数
- [SmartJMicron66x]
- 01=读取错误率
- 02=吞吐性能
- 03=起转时间
- 05=重新分配扇区计数
- 07=寻址错误率
- 08=寻址时间性能
- 09=通电时间(小时)
- 0A=起转重试次数
- 0C=通电次数
- A7=固态硬盘保护模式 (只读不写)
- A8=SATA 物理层错误计数
- AA=坏块计数
- AD=擦除计数
- AF=坏簇表计数
- B4=备用块计数
- C0=意外断电计数
- C2=温度
- C5=有待处置扇区数
- E7=使用寿命
- E9=写入扇区计数 (NAND)
- F0=写磁头
- F1=主机总写入
- F2=主机总读取
- [SmartPhison]
- 01=读取错误率
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- A8=SATA 物理层错误计数
- AA=坏块计数
- AD=擦除计数
- C0=意外断电计数
- C2=温度
- DA=CRC 错误计数
- E7=SSD 剩余寿命
- F1=主机写入
- [SmartSeagate]
- ; https://crystalmark.info/board/c-board.cgi?cmd=one;no=1818;id=#1818
- 01=读取错误率
- 05=老化扇区数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- 10=可用备用块
- 11=剩余备用块
- A8=SATA 物理层错误计数
- AA=坏块计数
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=擦除计数
- AE=意外断电计数
- B1=磨损范围增量
- B5=编程失败计数
- B6=擦除失败计数
- C0=意外断电计数
- C2=温度
- C9=软错误率
- CC=软 ECC 校正率
- DA=CRC 错误计数
- E7=SSD 剩余寿命
- E8=读取失败块数
- E9=NAND 写入 (GiB)
- EA=总计闪存写入
- EB=NAND 扇区写入
- F1=总计主机写入
- F2=总计主机读取
- FA=总计 NAND 读取重试
- [SmartSeagateIronWolf]
- ; https://www.seagate.com/cn/zh/support/internal-hard-drives/nas-drives/ironwolf-ssd/#specs
- 01=原始读取错误率
- 05=重新分配扇区计数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- 64=闪存已擦除 (GiB)
- 66=进入 PS4 电源状态总计
- 67=进入 PS3 电源状态总计
- AA=增长坏块计数
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=平均编程/擦除(P/E)计数
- AE=意外断电计数
- B1=磨损范围增量
- B7=SATA/PCIe 接口性能降级计数
- BB=不可校正 ECC 错误计数
- C2=温度
- C3=希捷 RAISE 阵列成功恢复 ECC 错误计数
- C6=不可校正的读取错误计数
- C7=SATA 读取 CRC 错误计数
- E6=寿命保护状态
- E7=SSD 剩余寿命
- E8=可用保留空间
- E9=总计闪存写入
- F1=总计主机写入
- F2=总计主机读取
- F3=空闲空间
- [SmartMarvell] ; Added 8.8.3
- 05=新增坏块数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=启动-关闭循环次数
- A4=擦除计数总计
- A5=最大擦除计数
- A6=最小擦除计数
- A7=平均擦除计数
- C0=断电重启计数
- C2=温度
- C7=SATA CRC 错误计数
- F1=主机总写入
- F2=主机总读取
- [SmartMaxiotek] ; Added 8.8.6
- 05=重新分配扇区数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- A7=固态硬盘保护模式 (只读不写)
- A8=物理层错误计数
- A9=坏块计数
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=擦除计数
- AF=坏簇表计数
- B1=读取重试计数
- B4=剩余备用块计数
- BB=报告的不可校正错误计数
- C0=意外断电计数
- C2=温度
- C4=重新分配事件计数
- C7=UDMA CRC 错误计数
- CE=最小擦除计数
- CF=最大擦除计数
- D0=平均擦除计数
- D1=SLC 块最小擦除计数
- D2=SLC 块最大擦除计数
- D3=SLC 块平均擦除计数
- E7=SSD 剩余寿命
- E9=扇区到 NAND 写入计数
- EA=扇区从 NAND 读取计数
- F1=写入扇区计数
- F2=读取扇区计数
- F5=Bit 错误计数
- [SmartSeagateBarraCuda] ; Added 8.9.0
- 01=UECC(不可校正)错误计数
- 05=老化扇区数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- 10=可用备用块
- 11=剩余备用块
- A8=SATA 物理层错误计数
- AA=坏块计数
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=擦除计数
- AE=意外断电计数
- B1=磨损范围增量
- B5=编程失败计数
- B6=擦除失败计数
- C0=意外断电计数
- C2=温度
- C9=软错误率
- CC=软 ECC 校正率
- DA=CRC 错误计数
- E7=SSD 剩余寿命
- E8=读取失败块数
- E9=NAND 已写入 (GiB)
- EA=总计闪存写入
- EB=NAND 扇区写入
- F1=总计主机写入
- F2=总计主机读取
- FA=总计 NAND 读取重试
- [SmartYmtc] ; Added 8.10.0
- 05=新增坏块计数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- AA=最大坏块计数
- A8=SATA 物理层错误计数
- A9=坏块计数
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=擦除计数
- AF=坏簇表计数
- B7=SATA 接口性能降级计数
- B8=端到端错误检测/校正计数
- BB=不可校正错误计数
- BE=温度
- C0=意外断电计数
- C4=重新分配事件计数
- C7=CRC 错误计数
- CE=最小擦除计数
- CF=最大擦除计数
- D0=平均擦除计数
- D1=SLC 块最小擦除计数
- D2=SLC 块最大擦除计数
- D3=SLC 块平均擦除计数
- E7=SSD 剩余寿命
- E9=扇区到 NAND 写入计数
- EA=扇区从 NAND 读取计数
- F1=主机总写入
- F2=主机总读取
- F3=NAND 温度
- F5=Bit 错误计数
- [SmartScy] ;Added 8.12.8
- 01=原始读取错误率
- 05=重新分配扇区计数
- 07=寻址错误率
- 09=通电时间(小时)
- 0C=通电次数
- A7=平均擦除计数
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=擦除次数
- B1=读取重试计数
- B4=剩余备用块
- B7=运行期间坏块
- BB=已报告 UNC 错误次数
- C0=不安全关机计数
- C2=受控温度
- C3=ECC 纠正比特误码累计次数
- C4=重分配事件计数
- C5=有待处置扇区
- C7=UDMA CRC 错误计数
- E7=SSD 剩余寿命
- F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
- F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计
- F5=Nand 闪存写入量总计
- [SmartRecadata] ;Added 8.14.0
- 07=寻址错误率
- 09=通电时间(小时)
- 0C=驱动器通电次数
- A7=平均擦除计数
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=擦除计数
- B1=读取重试计数
- B4=剩余备用块
- B7=运行期间坏块
- BB=已报告 UNC 错误次数
- C0=不安全关机计数
- C2=受控温度
- C3=ECC 纠正比特误码累计次数
- C4=重分配事件计数
- C5=有待处置扇区
- C7=UDMA CRC 错误计数
- E7=SSD 剩余寿命
- F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
- F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计
- F5=Nand 闪存写入量总计
- [SmartSanDiskHp] ;Added 8.17.0
- 01=原始读取错误率
- 05=重新分配块数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=驱动器通电次数
- AA=已保留块数量
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=闪存磨损平均计数
- AE=不安全关机计数
- B0=未使用的已保留块数量
- B7=SATA 接口性能降级次数
- B8=端到端错误检测与纠正次数
- BB=不可校正错误计数
- BC=命令超时
- BE=气流温度
- C2=温度
- C4=重分配事件计数
- C7=CRC 错误计数
- C9=SSD 剩余寿命
- E6=介质磨损指示器
- F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
- F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计
- F3=温控统计
- F4=温控墙状态
- F9=TLC NAND 已写入 (GB)
- [SmartSanDiskHpVenus] ;Added 8.17.0
- 01=原始读取错误率
- 05=重新分配块数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=驱动器通电次数
- AA=已保留块数量
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=闪存磨损平均计数
- AE=不安全关机计数
- B0=未使用的已保留块数量
- B7=SATA 接口性能降级次数
- B8=端到端错误检测与纠正次数
- BB=不可校正错误计数
- BC=命令超时
- BE=气流温度
- C2=温度
- C4=重分配事件计数
- C7=CRC 错误计数
- C9=SSD 剩余寿命
- E6=介质磨损指示器
- F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
- F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计
- F3=NAND 总计写入
- F4=温控墙状态
- F9=TLC NAND 已写入 (GB)
- [SmartSanDiskDell] ;Added 8.17.0
- 05=重新分配块数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=驱动器通电次数
- AF=编程失败计数 (最差组件)
- B0=擦除失败计数 (最差组件)
- B1=闪存磨损平均计数
- B2=已使用的保留块数量 (最差组件)
- B3=已使用的保留块数量 (SSD 整体)
- B4=剩余的保留块数量 (SSD 整体)
- B5=编程失败计数 (SSD 整体)
- B6=擦除失败计数 (SSD 整体)
- BB=不可校正错误计数
- C2=温度
- C3=ECC 率
- C7=CRC 错误计数
- E6=介质磨损指示器
- EE=介质磨损指示器 (剩余循环周期)
- F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
- F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计
- [SmartSanDiskLenovo] ;Added 8.17.0
- 05=重新分配块数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=驱动器通电次数
- A6=最小 PE(编程/擦除) 次数
- A7=单个裸片中坏块数 (最大)
- A8=最大 P/E 次数
- A9=总计坏块
- AA=增长坏块
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=平均 P/E 次数属性
- AE=不安全关机计数
- B2=已使用的保留块数量
- B4=剩余的保留块数量
- B8=端到端错误检测与纠正次数
- BB=UECC(不可校正)错误次数
- BC=命令超时
- C2=温度
- C7=SATA CRC 错误
- D4=SATA 物理层错误计数
- E6=介质磨损指示器
- E8=可用保留空间
- E9=NAND 已写入 (GB)
- EA=SLC NAND 已写入 (GB)
- F1=主机总计写入 (GB)
- F2=总计读取 (GB)
- F3=温控统计
- F4=温控墙状态
- [SmartSanDiskLenovoHelenVenus] ;Added 8.17.0
- 05=重新分配块数
- 09=通电时间(小时)
- 0C=驱动器通电次数
- A6=最小 PE(编程/擦除) 次数
- A7=单个裸片中坏块数 (最大)
- A8=最大 P/E 次数
- A9=总计坏块
- AA=增长坏块
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=平均 P/E 次数属性
- AE=不安全关机计数
- B2=已使用的保留块数量
- B4=剩余的保留块数量
- B8=端到端错误检测与纠正次数
- BB=UECC(不可校正)错误次数
- BC=命令超时
- C2=温度
- C7=SATA CRC 错误
- D4=SATA 物理层错误计数
- E8=可用保留空间
- E9=介质磨损指示器
- EA=SLC NAND 已写入 (GB)
- F1=主机总计写入 (GB)
- F2=总计读取 (GB)
- F3=温控统计
- F4=温控墙状态
- F9=TLC NAND 已写入 (GB)
- [SmartMicronMU03] ;Added 8.17.0
- 01=原始读取错误率
- 05=重新分配 NAND 块数
- 09=通电时间(小时) Count
- 0C=通电次数
- AB=编程失败计数
- AC=擦除失败计数
- AD=平均擦除块数
- AE=不安全关机计数
- B4=未使用的备用 NAND 块
- B5=4K 未对齐的访问
- B7=SATA 接口性能降级
- B8=错误校正计数
- BB=报告的不可校正错误
- C2=温度
- C4=重分配事件计数
- C5=当前待定 ECC 计数
- C6=SMART 离线扫描不可校正错误计数
- C7=UDMA CRC 错误计数
- CA=剩余寿命
- CE=写入错误率
- D2=RAIN(独立 NAND 冗余阵列)成功恢复计数
- F0=主机编程页次数
- F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
- F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计
- F3=总计编程页次数
- F6=主机累计写入扇区
- F7=主机编程 NAND 页计数
- F8=FTL 编程 NAND 页计数
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